次、何読む? nextbook.jp
ログイン

本ページはアフィリエイト広告を含みます

誤診の解体 : 診断エラーに潜む認知バイアス

Pat Croskerry, 宮田靖志, 中川紘明

出版社
メディカル・サイエンス・インターナショナル
発売日
2021-12-01
ISBN
9784815730383

詳細はこちらから

Amazonで見る

シェアする

みんなのレビュー

まだ評価がありません。

まだレビューがありません。